手機可靠性測試常規測試條件

結構耐久測試 (Mechanical Endurance Test)

u 樣品標準數量：8 臺。

u 測試周期：7 - 15個工作日。

u 測試目的：各結構件壽命測試。

1.按鍵測試(Keypad Test)

測試環境：室溫(20~25° C);4臺手機;手機設置成關機狀態。

測試方法：導航鍵及其他任意鍵進行10萬次按壓按鍵測試。

試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。

2.側鍵測試(Side Key Test)

測試環境：室溫(20~25° C);4臺手機;手機設置成關機狀態;5萬次按壓。

試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。

3.翻蓋測試(Flip Life Test)

測試環境：室溫(20~25° C);4臺手機;手機設置成開機狀態;10萬次開合翻蓋測試。

試驗標準：6萬次后，手機外觀，結構，及功能正常。

4.滑蓋測試(Slide Life Test)

測試環境：室溫(20~25° C);4臺手機;手機設置成開機狀態;8萬次滑蓋測試。

試驗標準：6萬次后，手機外觀，結構，及功能正常,滑蓋不能有松動。

5. 重復跌落測試(Micro-Drop Test)

測試環境：室溫(20~25° C);7cm高度 ,20mmPVC板;4臺手機;開機狀態;6000次。

測試標準：手機各項功能正常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎，晃動無異響。

6. 充電器插拔測試(Charger Test)

測試環境：室溫(20~25° C);4臺手機。

試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接口，等待手機至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開機不插卡狀態下插拔充電3000次。

檢驗標準：I/O接口無損壞，焊盤無脫落，充電功能正常。無異常手感。

7.筆插拔測試(Stylus Test)

測試環境：室溫(20~25° C);4臺手機;開機狀態;2萬次。

檢驗標準：手機筆輸入功能正常，插入拔出結構功能、外殼及筆均正常。

8.觸摸屏點擊試驗 (Point Activation Life Test)

試驗條件：觸摸屏測試儀，直徑為0.8mm的塑料手寫筆或隨機附帶的手寫筆

試驗方法：2臺手機;將手機設置為開機狀態，點擊同一位置250,000次，點擊力度為250g;點擊速度：2次/秒;

檢驗標準：不應出現電性能不良現象;表面不應有損傷

9.觸摸屏劃線試驗 (Lineation Life Test)

試驗條件：觸摸屏測試儀，直徑為0.8mm的塑料手寫筆或隨機附帶的手寫筆

試驗方法：2臺手機;將手機設置為關機狀態，在同一位置劃線至少100,000次，力度為250g，滑行速度：60mm/秒

檢驗標準：不應出現電性能不良現象;表面不應有損傷

10.電池/電池蓋拆裝測試(Battery/Battery Cover Test)

測試環境：室溫(20~25°C);4臺手機;將電池/電池蓋反復拆裝1000次。

檢驗標準：手機及電池卡扣功能正常無變形，電池觸片、電池連接器應無下陷、變形及磨損的現象，外觀無異常。

11. SIM Card 拆裝測試(SIM Card Test)

測試環境：室溫(20~25°C);4臺手機;SIM卡插上取下反復500次。

檢驗標準：SIM卡觸片、SIM卡推扭開關正常，手機讀卡功能使用正常。

12. 耳機插拔測試(Headset Test)

測試環境：室溫;4臺手機;開機狀態;耳機插入耳機插孔再拔出，3000次。

檢驗標準：實驗后檢查耳機插座無焊接故障，耳機插頭無損傷，使用耳機通話接收與送話無雜音(通話過程中轉動耳機插頭)，耳機插入手機耳機插孔時不會松動(可以承受得住手機本身的重量)。

13.導線連接強度試驗(Cable Pulling Endurance Test)

測試環境：室溫(20~25° C);

實驗方法：選取靠近耳塞的一段導線，將其兩端固定在實驗機上，用20N±2N的力度持續拉伸6秒，循環100次。

檢驗標準：導線功能正常，被覆外皮不破裂，變形。

14.導線折彎強度試驗(Cable Bending Endurance Test)

測試環境：室溫(20~25° C);

實驗方法：分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導線，將導線的兩端固定在實驗機上，做0mm~25mm折彎實驗3000次。

檢驗標準：導線功能正常，被覆外皮不破裂，變形。

15.導線擺動疲勞試驗(Cable Swing Endurance Test)

測試環境：室溫(20~25° C);

實驗方法:分別將耳機和插頭固定在實驗機上，用1N的力， 以90°~120°的角度反復擺動耳機末端3000次。

檢驗標準：導線功能正常，被覆外皮不破裂。

以上是關于手機可靠性測試的相關介紹，如有其他檢測需求可以咨詢實驗室工程師為您服務。