1、預處理（必要時）
進行預處理是為了消除試驗樣品在試驗開始前所受的影響。
2、初始檢測（必要時）
在環(huán)境試驗之前，試驗樣品在規(guī)定的大氣條件下，按有關規(guī)范要求進行外觀檢查及光電性能檢測。
3、條件試驗
給試驗樣品施加規(guī)定的環(huán)境條件，以確定對樣品的影響。
4、中間檢測
在條件試驗期間要求樣品工作時，應在樣品受試過程中進行檢測。
5、恢復（必要時）
在條件試驗之后，最后檢測之前，應按規(guī)定的時間和條件進行恢復。
6、最后檢測
恢復期結束后，按有關規(guī)范要求進行外觀檢查及光電性能檢測。
7、失效判據(jù)
由有關規(guī)范規(guī)定合格與否的標準。

紅外探測器是將入射的紅外輻射信號轉變成電信號輸出的器件。紅外輻射是波長介于可見光與微波之間的電磁波，人眼察覺不到。要察覺這種輻射的存在并測量其強弱，必須把它轉變成可以察覺和測量的其他物理量。紅外探測器環(huán)境試驗可觀察產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的適應性和耐受性，排除早期失效提高產(chǎn)品的質量，為失效分析提供驗證數(shù)據(jù)和有效的信息。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種紅外探測器的環(huán)境試驗能力，為紅外探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫貯存試驗、溫度變化試驗、低氣壓試驗等環(huán)境試驗服務。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種紅外探測器的環(huán)境試驗能力，為紅外探測器產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫貯存試驗、溫度變化試驗、低氣壓試驗等環(huán)境試驗服務。

GB/T 15430-1995 紅外探測器環(huán)境試驗方法
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：支持文件和導則 振動試驗選擇
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fi：振動 混合模式
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓

氣候環(huán)境試驗：低溫貯存試驗、低溫工作性能試驗、高溫貯存試驗、高溫工作性能試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗、溫度變化試驗、低氣壓試驗
機械環(huán)境試驗：正弦振動試驗、寬帶隨機振動試驗、沖擊試驗、碰撞試驗、恒定加速度試驗、引出端及整體安裝件強度試驗
其他試驗：密封性試驗、輻照試驗、長霉試驗、鹽霧試驗